一、实验目的

1. 解决餐厨垃圾发酵液高浊度条件下悬浮颗粒物、菌体、油脂、有机酸、盐类对Kibron张力测试的干扰,建立可复现的多层级空白校正操作方法。

2. 区分悬浮颗粒物理干扰与溶解性生物表面活性剂的真实界面效应,得到校正后真实动态表面张力曲线。

3. 统一仪器基线空白、基质空白、过滤基质空白三类对照,减少浊度带来的数据漂移、数值虚降、曲线抖动问题。

4. 形成高浊有机发酵液Kibron测试标准化操作流程,用于发酵过程界面活性变化监测。


二、仪器材料与试剂准备

1. 仪器

芬兰Kibron榴莲视频APP下载,EZ‑Pi Plus单通道或者Delta‑8高通量机型,配备DyneProbe铂铱探针,温控样品台,配套Kibron分析软件。高速冷冻离心机,真空脱气装置,pH计,浊度计,超纯水机。


2. 试剂与样品

不同发酵阶段餐厨垃圾发酵原液,超纯水。根据发酵体系准备对应的发酵基质,不含餐厨垃圾底物、按照相同配比配制的空白发酵基质。


3. 耗材

石英样品杯或者96孔DynePlate微孔板,低吸附离心管,无水乙醇,0.45μm水系滤膜,0.22μm水系滤膜。滤膜提前用基质溶液润洗,降低滤膜吸附损失。


4. 仪器前期校验

仪器放置无震动、避开气流直吹台面,整机通电预热60min,闭合防风罩。探针依次超纯水冲洗,无水乙醇冲洗,高纯氮气吹干。25℃超纯水做张力标定,纯水表面张力稳定72.0‑72.8mN/m,通道之间偏差小于0.2mN/m,基线稳定无漂移。测试温度固定25.0±0.5℃。


三、四类空白的定义与样品制备

1. 仪器基线空白

使用18.2MΩ超纯水,0.22μm过滤、真空脱气10‑15min。用于校验仪器硬件零点,每次整套实验开始和结束均需要测定,不用于样品数据直接扣除,用于判断探针、样品杯是否存在污染。


2. 原始基质空白

按照餐厨垃圾发酵的原始配方,配制不含餐厨垃圾底物的发酵基质,和实验组同步接种、同步发酵,经历完全相同的培养周期。该空白含有发酵产生的盐、有机酸、接种微生物代谢背景,保留体系全部溶解态背景组分,浊度来源于接种污泥菌体。用于反映发酵体系本身带来的界面背景。


3. 过滤基质空白

将上述原始基质空白经过高速离心,再依次0.45μm、0.22μm滤膜过滤,去除全部悬浮颗粒,得到澄清基质空白溶液。该空白消除悬浮颗粒干扰,保留全部溶解性组分,用于区分颗粒物理干扰和溶解性物质界面活性。


4. 样品平行分组

每个发酵时间点准备三份样品,第一份为未过滤高浊发酵原液;第二份发酵液8000g离心20min取上清;第三份离心上清再经过0.45μm、0.22μm逐级过滤得到澄清滤液。每个组别设置2‑3份技术平行。所有样品配制完成后真空脱气10‑15min,目视检查无气泡。如果不能立即上机,4℃避光保存,存放不超过24h。


四、完整上机测试操作流程

1. 软件参数设置

新建动态表面张力时间扫描程序,测试温度设置25℃,总采集时间设置90‑120min,保证张力达到稳定平台。采集间隔2‑5秒每数据点,探针下降速度2mm/min,探针浸入液面深度0.3mm。


2. 空白样品优先测试顺序

先测定仪器基线空白超纯水,确认基线正常。接着测定过滤基质空白,采集完整动态张力曲线。再测定原始基质空白高浊样品,记录高浊基质带来的曲线抖动、漂移特征。全部空白测试完成后,再测定餐厨垃圾发酵液各组样品。


3. 单通道石英杯上样操作

取150‑200μL待测样品,沿杯壁缓慢加入石英样品杯,严禁冲击液面产生气泡。将样品杯放置温控台,关闭防风罩静置8‑10min,消除上样扰动。探针下降接触气液界面,启动采集,记录完整动态张力‑时间曲线。

如果使用Delta‑8高通量96孔板模式,每孔加入50μL样品,仔细检查孔内无气泡,将微孔板卡紧固定,启动批量自动测试。空白样品与待测样品排布在同一块微孔板,保证温度、环境条件完全一致。


4. 探针清洗流程

每完成一个样品测试,探针超纯水冲洗3次,无水乙醇冲洗,高纯氮气吹干。高浊发酵液含有油脂、有机质,极易吸附在探针表面,高浊样品测试结束后,可短时间乙醇浸泡探针再冲洗吹干,消除吸附残留,防止交叉污染。


五、分层空白校正数据处理步骤

1. 导出全部原始动态张力数据,首先查看仪器基线空白,若纯水基线漂移大于0.2mN/m,判定探针或样品杯被污染,本次数据作废,重新清洁探针样品杯复测。


2. 处理澄清滤液数据。将发酵液澄清滤液原始曲线,扣除同批次过滤基质空白曲线,得到校正后溶解性组分的真实表面张力变化,该结果消除盐、有机酸等可溶性基质背景的影响。


3. 处理高浊未过滤原液数据。高浊原液不能直接简单做单点数值相减。对比原始基质空白(高浊)与发酵原液的曲线形态,区分两种干扰。

曲线整体持续漂移、高频抖动,主要来自悬浮颗粒碰撞探针、颗粒在界面沉降,属于物理干扰,不能直接用数值相减消除,需要以澄清滤液校正结果作为参考,评价原液数据可信度。

曲线出现稳定的张力平台下降,抖动幅度小,代表体系存在溶解性表活物质,此时以澄清滤液校正结果作为主要参考指标,原液曲线作为辅助参考。


4. 浊度关联校验。同步测定各样品浊度,记录NTU数值。同一个发酵时间点对比原液、离心上清、过滤滤液三组张力结果。如果过滤前后张力差异巨大,说明悬浮颗粒对测试贡献显著,不能直接采用未过滤原液单点张力数值作为结论。


5. 平行统计,计算校正后各组平衡表面张力、张力下降速率,统计平均值与标准偏差。


六、关键细节与质量控制

1. 餐厨垃圾发酵液含有浮油,油脂会在探针、液面富集,带来严重假张力下降,样品取样尽量避开上层浮油层。如果样品浮油明显,需要离心去除浮油后再开展测试。


2. 滤膜存在有机物质吸附,基质空白必须经过和样品完全相同的滤膜润洗、过滤流程,不能直接使用未过滤基质做滤液的扣除空白。


3. 高浊样品悬浮颗粒会缓慢沉降,上样静置时间要统一,静置时间不一致会造成颗粒沉降程度不同,带来读数差异。


4. 不可以直接用纯水作为发酵液的扣除空白,发酵基质本身含有大量挥发性脂肪酸、盐类,会改变基础表面张力,必须使用同批次发酵基质空白。


5. 全程严控气泡,微小气泡会造成曲线剧烈抖动,高浊样品气泡目视不容易分辨,出现曲线无规则剧烈震荡,优先怀疑气泡干扰,重新制样复测。


6. 环境温度波动控制在±1℃以内,温度变化会直接改变表面张力数值。